Microscopia eletrônica

Em microscôpios eletrônicos de varredura a formação da imagem ocorre a partir da interação entre o feixe primário de eletrons com a amostra resultando na produção de eletrons secundários e eletrons retroespalhados, os quais são detectados por detectores especificos : Side Scatter e Back Scatter, respectivamente. Este sistema de detecção permite captar os diferentes níveis de sinais contribuindo para a elaboração final da imagem fornecendo informações sobre contraste, composição, topografia dentre outras caracteristicas do material biológico. ( Muller, 1996)
No estudo presente, descrevemos os resultados obtidos utilizando a MEVEC para visualizar a superficie celular da forma epismastigota de T. cruzi. Na Figura 1 , utilizamos o detector Side Scatter para analise das caracteristicas anatômicas do parasito, fornecendo uma visualização de qualidade do flagelo alongado e da superfĩcie celular lisa. Ao comparar nossa imagem, com dados da literatura obtidos com a mesma forma do protozoário, observamos padrão semelhante de resolução e detalhamento aos obtidos com este mesmo detector em MEV e MEVEC (Vatarunakamura et al., 2005; Menna-Barreto et al., 2007; de Souza et al., 2008; Adade et al., 2012; Barrias et al., 2012).
Após a verificação da morfologia do parasito em MEVEC por Side Scatter, desenvolvemos diferentes protocolos para o processamento das amostras visando determinar o modelo mais eficiente para marcação e visualização de partículas de ouro coloidal conjugadas a lectina para a investigação dos açucares de membrana.
Inicialmente, comparamos as imagens produzidas por cada modalidade de detector com o intuito de interpretar os diferente sinais emitidos. (Figs. 2 e 3)
As imagens obtidas por Side Scatter , são formadas pela emissão de elétrons secundários, responsavéis por caracterizar a composição e topografia por mecanismos de contraste particulares, retratando detalhadamente as caracteristicas presentes na superficie da amostra (Figs. 2A,C,E e 3A)