Microscopia Eletrônica de Varredura

Microscopia Eletrônica de
Varredura

UFBA
Julho/2013

Resumo
O emprego de técnicas analíticas para obtenção de dados referentes a natureza física e química dos materiais foi largamente utilizado desde os primórdios da evolução humana. Acredita-se, por exemplo, que o primeiro microscópio óptico foi inventado pelo Holândes Zacharias Jansen, por volta do ano de 1595. Destaca-se também o simples e diminuto modelo italiano criado em 1600, além do primeiro microscópio com tripé, criado por John Yarwell em 1683. Com avanço das tecnologias, a microscopia foi sendo intensamente desenvolvida, sobretudo através da microscopia eletrônica, com novos instrumentos com uma maior resolução espacial, chegando inclusive a níveis atômicos.
O primeiro trabalho reconhecido descrevendo o conceito de um MEV é o de Knoll
(KNOLL,1935). Mais adiante, Von Ardenne em 1938, através de adaptações com bobinas, construiu um microscópio eletrônico de varredura. A microscopia eletrônica de varredura (MEV) consiste em utilizar um feixe de elétrons de pequeno diâmetro para explorar a superfície da amostra, ponto a ponto, por linhas sucessivas e transmitir o sinal do detector a uma tela catódica cuja varredura está perfeitamente sincronizada com aquela do feixe incidente.
Antes de serem submetidas ao método em si, as amostras devem ser preparadas adequadamente, de modo a facilitar a atuação do MEV. Nesse contexto, estas devem conter duas particularidades fundamentais: estarem na forma de lâminas delgadas ou secções polidas e terem boa condutividade elétrica.
A interação do feixe de elétrons com a superfície das amostras, podendo ser de caráter elástico ou inelástico, gera uma série de sinais que, por sua vez, são aplicados para a coleta de diferentes dados. Destacam-se os seguintes sinais: elétrons secundários, retroespalhados e a emissão de raios X. A utilização dessa variedade de sinais gerados a partir da interação elétrons/amostra dá ao instrumento uma versatilidade