Microscopia eletrônica de transmissão e varredura

Microscopia Eletrônica de Transmissão e Microscopia Eletrônica de Varredura

A MET ( Microscopia Eletrônica de Transmissão) tem por definição, na qual um objeto é examinado diretamente por uma varredura de feixe de elétrons extremamente estreito que analisa a amostra ponto a ponto e utiliza as reações dos elétrons que são transmitidas através desta amostra para gerar uma imagem. A construção do MET é robusta, a fim de garantir estabilidade mecânica e evitar perturbações por vibrações do edifício. Não deve ser confundida com a MEV(Microscopia Eletrônica de Varredura), essa consiste na emissão de um feixe de elétrons por filamento de tungstênio, que concentrado, controlado e reduzido por um sistema de lentes eletromagnéticas, diafragmas e bobinas. Ele permite a obtenção de uma imagem ampliada e tridimensional da amostra. Os principais componentes do MEV assemelham-se àqueles do MET. A coluna, com o canhão eletrônico e a série de lentes eletrônicas, e o sistema de alto vácuo, são similares nos dois tipos de equipamentos. A principal utilização da MET, é permitir a análise de defeitos e fases internas dos materiais, como discordâncias, defeitos de empilhamento e pequenas partículas de segunda fase. Já a MEV por apresentar excelente profundidade de foco, permite a análise, com grandes aumentos de superfície, como superfícies de fatura. Por mais que sejam parecidas, podemos diferencia-las de modo que a MET é usado para observação de cortes ultrafinos e a MEV é capaz de produzir imagens de alta ampliação. Ou seja, para ser mais específico, a MET serve para observação na parte interior da amostra, e a MEV para observação da parte exterior.