Difração de raios-x A difração de raios-X foi descoberta por Max von Laue em 1912, corresponde a uma das principais técnicas para se obter informação e caracterização da microestrutura de um materiais cristalinos. A difração de raio x tem diversas áreas de aplicação, mais particularmente na engenharia e ciência dos materiais, engenharia metalúrgica, química e de minas, dentre outras. As informações são geradas pelo fenômeno físico da difração e também da interferência, ou seja, quando os raios incidem sobre um cristal, ocorre a penetração do raio na rede cristalina, a partir disso, teremos várias difrações e também interferências construtivas e destrutivas. Os raios X interagirão com os elétrons da rede cristalina e serão difratados. Com o uso de um dispositivo capaz de detectar os raios difratados e traçar o desenho da rede cristalina, a forma da estrutura gerada pelo espalhamento que refletiu e difratou os raios x, com isso é possível analisar a difração. Com as informações obtidas a partir da difração em monocristal além da estrutura e composição química do cristal podem ser obtidas outras informações como, por exemplo, ângulos e distâncias dentro da estrutura cristalina, bem como, distâncias um pouco mais longas, como as distâncias de van der Waals entre átomos de diferentes moléculas ou ainda podemos estudar as ligações de hidrogênio, forças inter e intramoleculares. O método da difração em pó é muito utilizado para a determinação de informações estruturais, tais como, parâmetro de rede e determinação de fase. É utilizado também na metalurgia para se estudar ligas polifásicas, produtos de corrosão, refratários, rochas, etc. Além disso, apresenta a vantagem de não destruir e nem necessitar de um preparo especial do material em questão.