questionário análise de materiais

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1. A difraçao de raios-X está relacionada ao espalhamento elástico dos raios-X incidentes sobre uma amostra, fenomeno pelo qual tem-se a mudança na direçao dos raios-X sem a perda de energia ou mudança de fase
Verdadeiro
Falso

2. a intensidade de difraçao de raios-X é totalmente independente do número de elétrons dos átomos em um dado plano cristalino
Verdadeiro
Falso

3. Raios-X policromáticos sao mais indicados que os monocromáticos para estudos de materiais cristalinos por difraçao de Raios-X
Verdadeiro
Falso

4. A seleçao do anodo do tubo de raios-X é que condiciona o comprimento de onda da radiaçao a ser utilizada
Verdadeiro
Falso

5. Planos de difraçao e suas respectivas distancias interplanares e densidades (elétrons) sao caracteristicas especificas e únicas de cada substancia cristalina, equivalentes a uma impressao digital
Verdadeiro
Falso

6. a dificuldade na interpretaçao de uma difratograma (identificaçao das fases) independe do número de fases presentes na amostra
Verdadeiro
Falso

7. o método de Rietveld considera a intensidade de um único pico difratado para a análise quantitativa por difraçao de Raios-X
Verdadeiro
Falso

8. A determinaçao do tamanha de cristalito é uma medida direta, ou seja, sem a necessidade de comparaçao com padrao ou calibraçao instrumental
Verdadeiro
Falso

9. o método de Rietveld pode ser empregado tanto para o refinamento de estruturas cristalinas como para se efetuar análises quantitativas por difraçao de raios-X
Verdadeiro
Falso

10. esforços uniformes sobre a estrutura cristalina ocasionam deslocamento das distancias interplanares o qual é evidenciado pelo alargamento dos picos no difratograma
Verdadeiro
Falso

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