método de separação de misturas

ELTROFORESE EM PLACA A diferenças entre os processos de detecção de raios-X pelos métodos de dispersão de energia (ED) e dispersão de comprimento de onda (WD), e o desempenho de cada método na análise por sonda de elétrons? A análise por dispersão do comprimento de onda (WD) se dá pela seguinte maneira: a radiação emitida pela amostra é difratada pelos planos da rede cristalina (com espaçamento conhecido d) de um monocristal. De acordo com a lei de Bragg (λ = 2d sen. θ) radiação de um único comprimento de onda é difratada para cada posição angular do cristal e a intensidade desta radiação pode ser medida com um contador adequado. Como radiação de vários comprimentos de onda é difratada em diferentes direções no espaço, este método é algumas vezes simplesmente chamado de dispersivo. Um espectrômetro de dispersão de comprimento de onda é também chamado de “espectrômetro de cristal”. Análise por dispersão de energia (ED): neste espectrômetro não é envolvida difração. Os vários comprimentos de onda na radiação emitida pela amostra são separados com base em suas energias por meio de um contador de Si (Li) em um analisador multicanal (MCA). Este contador produz pulsos de alturas proporcionais às energias do feixe incidente e o MCA, então, separa as várias alturas de pulsos. Como não há separação espacial dos váriospor elétrons: as moléculas entram na fonte de íons e são convertidas em íons, através da ionização por elétrons. Os elétrons emitidos por um filamento aquecido são acelerados por meio de um potencial de 70 V antes de interagirem com as moléculas que entram na fonte de íons. Após a ionização, o íon M⁺̇̇̇̇̇· ̇normalmente possui energia residual interna suficiente para que ele se fragmente. Um pequeno potencial positivo aplicado na placa repulsora da fonte de íons empurra os íons na direção do tubo analisador, e um pequeno potencial nas placas de focalização de íons dá origem a um feixe focalizado. Um elevado potencial