Microscópio de força atomica

Microscópio de força atômica

Esse tipo de microscópio segue o padrão defnido pela invenção do microscópio de tunelamento ou de varredura, que não utiliza lentes, mas parte da análise de variações realizadas pela ponta ou caneta de análise. O diferencial desse Microscópio é a análise indireta do material, pois as variações da ponta geram um momento em uma superfície refletora que direciona um feixe de lazer que será analisado por um sitema de computadores. Descrição do funcionamento

O esquema básico do funcionamento do microscópio de Força atômica é dividido em três grupamentos
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O cantilever ou tip (ponteira) - que pode ser constituído de mateirais variados e escolhidos de acordo com a superfície de análise - acoplado a uma superfície refletora. o Podem ser anexadas diferentes terminações (grupamentos) na ponta do microscópio de força atômica, por exemplo grupamentos químicos que possuam uma melhor interação com a amostra de interesse.
Recentemente, uma molécula de monóxido de carbono foi utilizada pela
IBM para “fotografar” uma molécula de pentaceno.
Laser
Sensor

Quando a ponteira de análise varre a superfície do matrial analisado, por causa das variações de repulsão e de atração entre ambas, é gerado um momento que induzirá, consequentemente, uma mudança na direção do feixo de lazer. Essa mudança é dectada por um fotodiodo cujo o sinal de saída é recolhido por um aplificador de diferencial.
Isso gerará uma grande variedade de dados que será analisado por um computador que gormará uma imagem 3D.

Utilização e vantagem
1.O MFA possui várias vantagens em comparação a um microscópio eletrônico de varredura(MEV), o MFA fornece uma imagem tridimensional da superfície diferentemente do microscópio eletrônico que faz uma projeção bidimensional ou uma imagem bidimensional de uma determinada amostra.
2.Investigações de não apenas materiais condutores mas também isolantes, pois o MFA não utiliza corrente de tunelamento para