Difratometria de raios X

Universidade de São Paulo - USP
Escola de engenharia de Lorena – EEL
DEMAR – Departamento de Materiais

Felipe Morales Romero

Analise de Difratograma de Raios-X
Amostra 2

Lorena – 2014

Felipe Morales Romero

Analise de Difratograma de Raios-X
Amostra 2

Relatório de uma analise de um difratograma de raios X, para disciplina de Técnicas de análise microestrutural, no curso de engenharia de materiais na
Universidade de São Paulo

Lorena – 2014

RESUMO
Este trabalho apresenta uma analise de um difratograma predeterminado pelo professor, tendo por finalidade o aprendizado e aperfeiçoamento da técnica de difratomeria de raios-X pelos alunos. Nele foi analisado o difratograma de uma amostra (neste caso a amostra 2) e obtido informações, como os valores de 2θ e de intensidade para assim calcular as distancias interplanares da estrutura cristalina do composto a determinar. Após a determinação do composto foram realizadas comparações entre o difratograma dado e os dados que constam no banco de dados, referente ao composto, que estarão expostos neste relatório.

Palavras chave: Difratomeria, Raios-X, Técnicas de analise microestrutural.

1 – INTRODUÇÃO

A difratomeria de raios X é uma técnica de caracterização de materiais que se baseia na determinação da estrutura cristalina e do espaçamento interplanar. Um feixe de raios X é direcionado sobre um material cristalino, onde a estrutura regular dos cristais serve como uma grade de difração subnanométrica para essa radiação, resultando dados de sua interação com uma serie de planos paralelos. Com o uso correto da lei de Bragg (1) e em conjunto com as regras de reflexão é possível uma medição muito precisa dos espaçamentos interplanares na estrutura cristalina.
Materiais monocristalinos e policristalinos, geralmente em pó, podem ser analisados por essa técnica, e a caracterização por esta técnica é realmente muito precisa e eficaz. n.λ = 2.dhkl.sen θ

(1)

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