AFM

Universidade de Coimbra
Faculdade de Ciências e Tecnologia
Departamento de Engenharia Mecânica
Mestrado em Engenharia dos Materias

Atomic Force Microscopy
(AFM)

Rosário de Fátima Simões da Cruz
26 de Novembro de 2014

Índice
1. Introdução .......................................................................................................................1
2. Principios e Funcionamento do AFM ..............................................................................1
3. Contaminação da amostra ..............................................................................................3
4. Resultados Obtidos .........................................................................................................4
5. Bibliografia ......................................................................................................................5

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Atomic Force Microscopy (AFM)

1. Introdução
A microscopia de força atómica foi desenvolvida para suprimir a maior limitaçao da microscopia de efeito de tunel (STM) . A STM tounou-se uma ferramenta util para a caracterizaçao de superficies de metais e semicondutores, a escala atómica, contudo, verificou-se que a sua maior limitaçao é o facto de necessitar da conduticidade da amostra.
Assim, em 1982, Binnig, Quate e Gerber, desenvolveram um novo micorscópio para ultrapassar este obstáculo, pois em vez de medir a corrente electrica, mediria forças em escala atómica. Este novo aparelho de mediçao possibilitava o estudo não-destrutivo de superficies de materiais com uma escala atómica nunca antes vista.
A técnica residia na realização de um varrimento da superfície de uma amostra através de linhas paralelas que depois formavam a imagem topográfica da amostra. O sensor, ou ponta, utilizado era revolucionário devido à sua dimensão e construção. Este sistema foi o percursor dos mais recentes microscópios de força atómica (AFM) utilizados na maior parte dos laboratórios de investigação de superfícies (fig.1).

Figura