TRABALHO CIENCIA DOS MATERIAIS 1

Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET)

A técnica possibilita a aquisição de imagens com resolução muito superior às obtidas com microscópios ópticos comuns, em consequência da utilização de elétrons para a formação das imagens. A microscopia eletrônica de transmissão permite a análise de defeitos e fases internas dos materiais, como discordâncias, defeitos de empilhamento e pequenas partículas de segunda fase.
Um feixe de elétrons atravessa a amostra sofrendo diversos tipos de espalhamento que dependem das características do material. Imagens de campo claro são formadas por elétrons que sofrem pouco desvio, enquanto as de campo escuro são formadas por elétrons difratados pelos planos cristalinos do material. Interações do feixe com o material geram raios-X característicos que fornecem informações sobre os elementos químicos presentes na amostra.

Em microscopia eletrônica de transmissão a imagem observada é a projeção de uma determinada espessura do material, havendo uma diferença com relação ao observado numa superfície. A figura abaixo apresenta a projeção de uma lâmina fina conforme observada no microscópio de transmissão. Como pode observado, ocorre uma projeção das linhas, áreas e volumes de interesse, podendo ocorrer superposição. .
Aplicações: polímeros, cerâmicas, materiais metálicos, orgânicos, inorgânicos, biológicos e compósitos. Pigmentos, cosméticos, látex, adesivos, catalisadores, petroquímica, colóides, nanopartículas, gesso, cimento.
Microscopia de Força Atômica (AFM)
A Microscopia de Força Atômica (AFM) foi desenvolvida com o objetivo de medir forças menores que 1μN entre a superfície da ponteira (tip) e a superfície da amostra.
Esta técnica pode ser dividida em dois parâmetros de força distintos: contato e não-contato. Quando operado no modo não-contato, a separação entre a ponta e a superfície da amostra é de ordem de 10-100 nm, e as forças como Van der Waals, eletrostática, magnéticas, capilares e