relatório

Omicroscpio eletrnico de varredura um tipo demicroscpio eletrnico capaz de produzir imagens de alta resoluo da superfcie de uma amostra. Devido maneira com que as imagens so criadas, imagens de MEV tem uma aparncia tridimensional caracterstica e so teis para avaliar a estrutura superficial de uma dada amostra. O microscpio eletrnico de varredura (MEV) um equipamento capaz de produzir imagens de alta ampliao (at 300.000 x) e resoluo. As imagens fornecidas pelo MEV possuem um carter virtual, pois o que visualizado no monitor do aparelho a transcodificao da energia emitida pelos eltrons. O princpio de funcionamento do MEV consiste na emisso de feixes de eltrons por um filamento capilar de tungstnio (eletrodo negativo), mediante a aplicao de uma diferena de potencial que pode variar de 0,5 a 30 KV. Essa variao de voltagem permite a variao da acelerao dos eltrons, e tambm provoca o aquecimento do filamento. A parte positiva em relao ao filamento do microscpio (eletrodo positivo) atrai fortemente os eltrons gerados, resultando numa acelerao em direo ao eletrodo positivo. A correo do percurso dos feixes realizada pelas lentes condensadoras que alinham os feixes em direo abertura da objetiva. A objetiva ajusta o foco dos feixes de eltrons antes dos eltrons atingirem a amostra analisada. Amostras de metal no exigem nenhuma preparao especial, a no ser cortes para caber na cmara de amostras e algum seccionamento se necessrio. Amostras slidas no condutivas devem ser cobertas com uma camada de material condutivo. Uma cobertura ultrafina de material eletricamente condutiva depositada tanto por evaporao de alto vcuo quanto por sputter de baixo vcuo na amostra. Isto feito para prevenir a acumulao de campos eltricos estticos nas amostras devido irradiao eltrico durante a produo da imagem. Tais coberturas incluem ouro, ouro/paldio, platina, tungstnio, grafite, etc. Outra razo para a metalizao, mesmo quando h conduo mais do que suficiente, para melhorar o contraste. So