microscopia por difração de raios x

Universidade Federal do Rio de
Janeiro

Difração por raios X (DRX)
Caracterização microestrutural dos materiais
Profª Paula Jardim

Grupo 4
Bruno Schwebel
Daniel Cardoso
Larissa Gouvêa
Ligia Yassuda
Mateus Spinelli
Mathias Moraes
Rafael Delorme
Rodrigo Mattos

TiO2

Ao comparar as posições angulares correspondentes a cada pico (2ϴ) dos valores experimentais – tabelados na tabela 1 - com as fichas de DRX disponibilizadas, chegamos a conclusão que o difratograma plotado corresponde à fase do Rutilo, que é descrito pelo sistema tetragonal e possui parâmetros de célula, aproximadamente, iguais a: a= 4,69 e c=2,96.
Para identificar a que plano (hkl) corresponde cada um dos picos do difratograma, comparamos as posições angulares destes com os planos teóricos correspondentes da ficha de DRX do Rutilo, dada.
Para calcular as distâncias interplanares “d”, fizemos uso direto da lei de Bragg: n λ = 2 d senϴ ; mas, considerando difração de primeira ordem, temos n = 1. Os resultados estão tabelados, com os valores correspondentes aos 3 picos mais intensos grifados.
Se ao invés da radiação Cu(Kα), que possui comprimento de onda λ=1,54Å, fosse utilizada Cr(Kα), com λ=2,29Å, a posição 2ϴ do primeiro pico seria dada pela Lei de Bragg, utilizando o plano correspondente: temos, no primeiro pico, (hkl) = (1 1 0) então, utilizando o valore experimentado da distância interplanar do primeiro pico, d=3,32:
ϴ = 20,17º . Logo 2ϴ = 40,34º .

Liga Al-Si
Temos que d = a/√S , onde S = h²+k²+l² . Então, para cada plano dado calculamos a distância interplanar d, tabelados na tabela 3. Desta forma podemos identificar a que plano (hkl) e cada fase corresponde cada pico (tabelados na tabela 2).

Tabelas número de pico

2θ

θ

I

θ(rad)

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

27,46
36,1
39,22
41,26
44,06
54,32
56,68
62,76
64,06
65,52
69
69,8
72,42
74,4
76,54
79,82
82,34
84,24
87,48
89,54

13,73
18,05
19,61
20,63
22,03
27,16
28,34
31,38
32,03
32,76
34,5
34,9
36,21
37,2
38,27
39,91