Estatistica

Jacinta Enzweiler

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23/11/2010

Espectrometria de Fluorescência de Raios X

A espectrometria de fluorescência de raios X (FRX ou XRF) é uma das técnicas analíticas mais utilizadas em geoquímica. A indústria mineral, tanto de exploração como de beneficiamento também utiliza amplamente a fluorescência de raios X, especialmente para fins de controle de processo. As aplicações principais em geoquímica são as determinações de elementos maiores, menores e traços em rochas, solos e sedimentos. Dentre os elementos-traços, os mais favoráveis à determinação por FRX, em função de limites de detecção e abundância crustal, são Ba, Ce, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Pb, Rb, Sc, Sr, Th, V, Y, Zn, Zr. Os resultados da XRF sempre são de concentrações elementares totais. A XRF também pode ser útil na análise de amostras mineralizadas, para determinar elementos em concentração anômala (p.ex., As, Sb, Bi, Ta, W). Um dos principais atrativos da XRF é a relativa simplicidade de preparação da amostras já pulverizadas. A fusão das amostras com fundentes e o posterior resfriamento produz vidros. Esta forma de homogeneização da amostra facilita a determinação de elementos maiores e menores (Na, Mg, Al, Si, P, K, Ca, Ti, Mn, Fe). A preparação direta de pastilhas prensadas a partir da amostras pulverizadas também é muito usada, mas encontra aplicação mais freqüente na determinação de elemento-traço. Os limites de detecção da XRF convencional, da ordem de alguns até dezenas de ppm, não são uniformes para todos os elementos. Elementos leves (Z<10) não são analisados na XRF convencional e a baixa concentração de muitos elementos-traço (p.ex., metais nobres) em amostras geológicas comuns impede a sua determinação por esta técnica. A fluorescência de raios X dos elementos presentes numa amostra ocorre quando esta é atingida por raios X oriundos de um tubo de raios X. Ao incidirem nos átomos da amostra, esses raios X primários ejetam elétrons das camadas próximas do núcleo (Figura 1). As vacâncias assim